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半導體/IC測試解決方案

IC測試分類機 SoC 測試系統

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Chroma 7505 半導體封裝光學量測系統

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1138

Chroma 7505 半導體封裝光學量測系統同時配備電動調整移動平臺，可對樣品做自動調平及定位。垂直與水平軸向掃描范圍大，適合各種自動量測之應用，待測物皆不需前處理即可進行非破壞且快速的表面形貌量測與分析，并提供快速自動對焦演算法與大面積接圖功能以及腳本量測功能具備自動量測能力，此外系統亦提供量測數據資料的存檔功能，供后續操作人員處理分析使用。
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Chroma 3813 觸碰面板多點半自動測試機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1245

Chroma 3813 觸碰面板多點半自動測試機是一款新型的觸控面板線性測試機。3813 可測試數位式電阻與數位式電容面板以及傳統式電阻與傳統式電容面板，測試機采用平行測試技術，應用于觸控面板觸控測試，感應棒可X-Y及Z軸之下壓接觸移動，可依客戶設定好的軌跡測試，或由CAD直接轉檔，并可設定多項測試，且可同時上料6個待測物。
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Chroma 3260C 三溫系統板測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1920

Chroma 3260C 三溫系統板測試分類機是一臺全新搭載Chroma混合制冷機（Hybr id Chi l ler）的系統板三溫測試分類機（SLT Handler），結合Chroma溫控技術Nitro TEC，可支援六站同時進行Full Range（- 40°C~125°C）的主動式溫控測試，并且透過專屬的混合制冷機可有效提升測試站升降溫速度，進而縮短整體測試時間。
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Chroma 3280 測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1390

Chroma 3280 測試分類機為所有的SD卡類產品帶來了一個創新的測試方法，而這高效率的測試方法也為客戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外，小機臺的設計更可節省機臺于測試廠之占地面積。整合了測試機臺與自動分類機的功能，并采用創新的設計，滿足采用KGD生產的SD 卡類產品的測試需求，不論是在機臺的成本或是體積上，都比傳統的測試機臺來的大幅降低，因此也就能夠相對地大幅降低測試的成本。
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Chroma 3270 IC測試分類機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1219

Chroma 3270 微型IC測試分類機是一款創新的微型 IC 測試分類機，特別適合 CMOS 影像感應組件（CIS : CMOS Image Sensor）量產所需，Chroma 3270 可配合多種不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、 μBGA、PGA及CSP封裝。Chroma 3270 采用 Pick & Place 技術，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試
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Chroma 3260 自動化系統功能測試機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1436

Chroma 3260 自動化系統功能測試機是一款新型的測試機可供多組PCB level平行測試的大量生產機具。3260可配合多數不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、 μBGA、PGA 及CSP封裝。測試機采用取放的技術，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試后產品放置于適當之Tray盤。
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Chroma 3240 自動化系統功能測試機

更新時間：2023-12-24

型號：

瀏覽量：1396

Chroma 3240 自動化系統功能測試機是一款新型的測試機可供多組PCB level平行測試的大量生產機具。3240可配合多數不同的封裝類型包括傳統的QFP、TQFP、μBGA、PGA 及CSP封裝。測試機采用取放的技術，可從JEDEC夾盤來拾取IC，移動到測試位置，然后將測試后產品放置于適當之Tray 盤。測試機可提供90度旋轉的需求，以符合各種IC方向性，使各個IC接腳同一方向。
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Chroma 3240-Q 無線射頻分類機

更新時間：2023-12-24

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瀏覽量：994

Chroma 3240-Q 無線射頻分類機也可依據測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設計, 3240-Q適用于JEDEC和EIA料盤規范。另有選配的加強溫控的測試能力, 可提供高達150℃之高溫測試環境。是一臺創新、整合了射頻和無線隔離室之自動分類機。
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