Chroma  58131 OLED壽命周期測試系統(tǒng)

本系統(tǒng)以開放式的PXI架構(gòu)為硬體基礎，可任意擴充測試組數(shù)，PXI系統(tǒng)具有先進的 "Hot plug ＆ play"功能，即當測試中的某一待測物發(fā)生短路或故障時，僅需移除發(fā)生故障之待測物，不影響其他測試中之待測物，系統(tǒng)仍可持續(xù)測試，可大量提升測試效能。

人性化的軟體介面，可自行設計電源輸出模式、電源參數(shù)值、量測時間、亮度校正等項目，并有曲線繪圖、資料表顯示及儲存，讓您可輕松分析測試報告。另外，測試治具的設計，便利的19吋機架，可隨意移動測試環(huán)境，精密輕巧的測試盒，可輕松替換待測物，電腦主機及熒幕組裝于機架上，以隨時了解測試狀況，18個插槽的PXI機箱，可同時檢測34組待測物，讓你擁有體積小，待測模組多的超迷你測試系統(tǒng)。

Chroma  58131 OLED壽命周期測試系統(tǒng)的特色：

獨立且精密的量測方式(PMU)

• 提供高精確度的電壓及電流
• 高精確度的量測能力
• 單一待測物故障自我控制，不影響其他測試中的待測物

測試功能

• 電氣特性量測
• 亮度量測
• 自行設計輸出模式(正負電壓及電流)

自動測試及資料載入

• PXI機箱含嵌入式控制器
• OLED測試卡 (一張PXI卡可測試兩個OLED面板)
• 每個系統(tǒng)大可提供34組待測物

選購配備

• 頻譜分析量測光學特性
• Turnkey 測試解決方案
• 客制化的測試治具(可接受不同尺寸的OLED面板)
• 部分機架可置入滑動抽屜(每個抽屜有四組治具)