掃描/透射電子顯微鏡是常用的高分辨率成像工具。這兩種技術都利用了電子束與樣品之間的相互作用，而不是可見光線。
掃描/透射電子顯微鏡通過將一個高速的細束電子束傳遞通過薄樣品來制造出影像。當電子穿過樣品時，它們與樣品內部原子的相互作用會產生信息，這些信息可以被捕獲并形成圖像。TEM可提供高分辨率的三維結構、晶格和化學成分信息。
掃描/透射電子顯微鏡的操作步驟：
1、準備好樣品：首先需要準備好待觀察的樣品，并確保樣品已制備成極薄的切片，以便電子能夠穿透。
2、調整儀器參數：根據要觀察的樣品類型和所需的分辨率，調整加速電壓、聚焦、對比度、亮度等儀器參數。
3、定位樣品：將樣品放置在樣品臺上，并使用顯微鏡觀察樣品位置，移動樣品臺以使待觀察區域位于電子束下方。
4、調整對焦：使用調焦輪和對焦圖像，將樣品對準電子束的聚焦位置。
5、開始成像：在適當的成像模式下，啟動電子束并進行掃描。捕獲電子通過樣品時所產生的散射信息，并形成圖像。根據需要，可以使用其他成像模式來獲取更多的信息。
總之，這兩種電子顯微鏡都需要精細的樣品制備和儀器參數調整，以獲得最佳的成像效果。每次操作前都需要對樣品進行檢查和準備，并根據所需的分辨率和范圍來選擇合適的成像模式和參數。
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