說說X射線衍射儀的主要功能與應(yīng)用范圍
更新時(shí)間：2020-12-22 點(diǎn)擊次數(shù)：803
X射線衍射儀分為單晶衍射儀和多晶衍射儀兩種。單晶衍射儀的被測(cè)對(duì)象為單晶體試樣，主要用于確定未知晶體材料的晶體結(jié)構(gòu)?；驹恚涸谝涣尉w中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。
X射線衍射儀技術(shù)是通過對(duì)樣品進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的一種儀器，是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法，X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。
X射線衍射儀的主要功能：
X射線衍射分析方法可實(shí)現(xiàn)無損的物相定性和定量分析，而且利用衍射峰位，衍射峰強(qiáng)度，衍射峰線形等信息可以進(jìn)行材料晶體結(jié)構(gòu)的表征，如：點(diǎn)陣常數(shù)的精密測(cè)定，晶粒尺寸和微觀應(yīng)變計(jì)算，宏觀殘余應(yīng)力測(cè)定，結(jié)晶度計(jì)算等。
應(yīng)用范圍：
X射線衍射分析方法是材料微觀結(jié)構(gòu)表征常規(guī)和有效的方法之一，它的適用性很廣，通常用于測(cè)量粉末、單晶或多晶體等塊體材料，并擁有檢測(cè)快速、操作簡單、數(shù)據(jù)處理方便等優(yōu)點(diǎn)，能為物理、化學(xué)、地球科學(xué)、材料科學(xué)、冶金以及各種工程技術(shù)科學(xué)的研究和教學(xué)提供專業(yè)服務(wù)。
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